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        1. inTEST 半導體電源芯片高低溫測試
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          inTEST 半導體電源芯片高低溫測試

          電源芯片是在電子設備系統中擔負起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理的職責的芯片.

          半導體電源芯片高低溫測試: 電源芯片由于多是在狹小空間內工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環境中長時間工作, 電源芯片經常經歷快速升溫的情況, 甚至經歷在電壓不穩時快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時需要經過測試芯片在快速變溫過程中的穩定性, 這點十分重要.

          半導體電源芯片高低溫測試客戶案例: 上海伯東某生產電源芯片企業, 下圖為實際的被測電源芯片, 焊在PCB 板上. 需要在通電的情況下進行溫度測試.
          半導體電源芯片高低溫測試
          針對客戶提出的測試要求, 上海伯東提供半導體芯片測試解決方案
          推薦使用美國 inTEST ATS-545 高低溫測試機, 將高低溫設備的罩子, 直接罩住待測試的通電芯片, 即可開始測試, ATS-545 測試溫度 ﹣60℃~150℃ , 變溫速率 -55至 +125°C <10 s, 溫度精度 ±0.1℃, 可以做 12組不同形式的循環溫度設定, 滿足客戶要求, 快速完成測試任務.
          半導體電源芯片高低溫測試
          上海伯東美國 inTEST thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機聯用, 進行半導體芯片高低溫測試.

          鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解詳細信息或討論, 請參考以下聯絡方式
          上海伯東: 葉女士                                  臺灣伯東: 王女士
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